科学为先。
透射电子显微镜 (TEM)
-
TEM图像拍摄
表征微观结构。
TEM样品厚度应在100nm以下。
衍射斑点可以表征材料的晶体结构。
(4Co-750C-24h)
-
高分辨TEM图像拍摄
拍摄高分辨的TEM样品厚度在30nm至70nm之间。
原子分布排列的2D形貌表征。
可观测到位错或孪晶结构。
(4Co-750C-24h)
-
TEM-EDS分析
通过特征X射线可获得成分信息和半定量分析。
测量方式可选点扫、线扫和面扫。
空间分辨率达到纳米级别。
(4Co-750C-6h)
