透射电子显微镜

赛默飞Talos F200X,可做高分辨率TEM和STEM,具备准确的化学成分分析

赛默飞Talos F200X,可做高分辨率TEM和STEM,具备准确的化学成分分析。

融合了优秀的高分辨率TEM和STEM成像能力,和领先的X特征射线(EDS)信号探测水平。

主要特点

  • 高分辨率场发射电子枪。

  • 方便操作的软件。

  • 快速检测化学成分。

  • 更好的图像数据。

  • 高质量(S)TEM图像和准确的EDS。

  • 高度可重复性的数据收集。

  • 提高效率。

在2nm尺度的高分辨率图片

(4Co-750C-24h)

100纳米标尺下的TEM-EDS面扫

(4Co-750C-6h)

 
 

应用场景。

  • 加工控制 - TEM是各种材料科学应用里监控主要加工步骤的生产过程检测仪器。

  • 质量控制 - 通过高分辨率电镜和光谱分析仪器进行失效分析和质量控制。

  • 基础材料研究 - 材料科学研究可使用电子显微镜,在微纳米尺度发展新型材料。

  • 半导体线路设计和发展 - 电镜是可以快速设计和生产的半导体分析和表征设备。

  • 半导体量测和产量分析 - 快速、高分辨率的三维表征,以最快速度产出。

  • 半导体失效分析 - 为半导体器件进行失效分析和缺陷定位,以便获得更高的产出和更短的数据获取时间。

  • 半导体器件表征 - 图像拍摄,分析及表征。

科学为先。那就是诺法。