透射电子显微镜
赛默飞Talos F200X,可做高分辨率TEM和STEM,具备准确的化学成分分析
赛默飞Talos F200X,可做高分辨率TEM和STEM,具备准确的化学成分分析。
融合了优秀的高分辨率TEM和STEM成像能力,和领先的X特征射线(EDS)信号探测水平。
主要特点
高分辨率场发射电子枪。
方便操作的软件。
快速检测化学成分。
更好的图像数据。
高质量(S)TEM图像和准确的EDS。
高度可重复性的数据收集。
提高效率。
应用场景。
加工控制 - TEM是各种材料科学应用里监控主要加工步骤的生产过程检测仪器。
质量控制 - 通过高分辨率电镜和光谱分析仪器进行失效分析和质量控制。
基础材料研究 - 材料科学研究可使用电子显微镜,在微纳米尺度发展新型材料。
半导体线路设计和发展 - 电镜是可以快速设计和生产的半导体分析和表征设备。
半导体量测和产量分析 - 快速、高分辨率的三维表征,以最快速度产出。
半导体失效分析 - 为半导体器件进行失效分析和缺陷定位,以便获得更高的产出和更短的数据获取时间。
半导体器件表征 - 图像拍摄,分析及表征。