双束聚焦离子束-扫描电镜

Helios 5 CX双束电镜,助力材料科学

Helios 5 CX双束电镜,助力材料科学

我们的赛默飞TM HeliosTM是先进的Helios双束家族的第五代产品。

主要特点。

 
  • 使用新型高通量 Tomahawk HT 离子镜筒,可制备较高质量、位点特异性 TEM 和 APT 样品。

  • 可通过多达 6 个集成在镜筒内和透镜下的集成检测器获得具有清晰、精确且无电荷的对比度的较完整样品信息。

  • 使用可选的 Auto Slice & View 4 (AS&V4) 软件,可提供较高质量、多模态亚表面和 3D 信息,较精确地瞄准目标区域。

  • 对复杂结构进行快速、准确、精确的铣削和沉积,临界尺寸小于 10 nm。

  • 具有高度灵活的 110 mm 载物台、多用途样品支架和 Nav-Cam+,可轻松处理和导航样品。

  • 基于集成样品清洁管理和专用成像模式(如 DCFI 和 SmartScan 模式)的无伪影成像。

电子束:

  • Elstar超高分辨率场发射电子镜筒

  • 分辨率:≤ 0.6 nm @ 15 kV;≤ 1.0 nm @ 1 kV

  • 电子束流范围:0.8 pA to 176 nA

  • 加速电压范围:200 V – 30 kV

离子束:

  • 离子源:镓离子 (Ga)

  • 分辨率:≤ 4.0 nm @ 30 kV,≤ 2.5 nm @ 30 kV

  • 离子束流范围:1 pA – 100 nA

  • 加速电压范围:500 V – 30 kV

GIS系统:

  • 铂 (Pt) / 钨 (W)

装配探头:

  • 二次电子 / 背散射

  • EDS: Oxford UltimMax 65

  • STEM

EasyLift 纳米机械手

 
 

我们实验室里的FIB

FIB内部视图

STEM明场图像

针尖状的APT样品

科学为先。那就是诺法。